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  • XOSXOS土壤分析仪 XOSXOS土壤分析仪
    XOS土壤分析仪基于HDXRF技术研发了可现场定量分析的HDRocksand;分析仪,仪器采用新的DCC光学反射晶体技术,可Z大限度降低样品干扰以及实现Z低检测极限,同时按照应用需求有选择性地激发重金属污染元素。即使是Z复杂的土壤样品,也能够以极低的检测极限帮助用户快速获得精确的重金属污染物分析结果,为用户决策提供帮助。

    详细介绍 技术参数 性能特点

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